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MVG为天线EMC、RCS及天线罩等领域测试提供广泛的测量解决方案,包括:近场、远场和紧缩场天线测量技术。本课程主要介绍芯片天线测量方法分析,包括近场和远场。
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史信荣,男,工学博士,广东省计量科学研究院高级工程师。